01좁은 피치 범프를 테스트하기 위한 로직 장치용 프로브 카드

02마이크로프로세서, SoC 장치 등과 같은 플립 칩 유형을 테스트하는 데 이상적입니다.

031핀 교체가 용이하고 유지 보수성이 우수합니다.

04프로브 팁의 모양은 임의로 선택할 수 있습니다.

05최첨단 마이크로프로세서를 위한 고주파 다이렉트 도킹 테스트 시스템과 호환

06포토리소그래피 기술을 사용하여 제작된 3차원 나선형 스프링 프로브

07낮은 변동성, 높은 정확도 및 신뢰할 수 있는 검사를 위해 MEMS 기술을 사용하여 제조