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Flat Panel Display는 대형화, 고정밀화 되고 있으며 액정, OLED 등,
기능과 종류가 다종다양화되고 있는 Device입니다.
당사의 FPD Solution은 신뢰성과 안전성, 다품종 대응으로
New Device 개발과 생산효율을 높이는데 공헌하고 있습니다.

 
 

TEG/Pixel Prober for large sized glasses
TP Series

   
  • Model TP-XG
  • Model TP-8500
  • Model TP-7500
  • Model TP-6050
  • Model TP-5550
  • Model TP-4800
  • Model TP-4700
제10세대 Glass Substrate까지 대응 가능한 TEG/Pixel용 Prober입니다. Pixel측정이 가능한 TEG/Pixel용 Prober는 Noise대책으로 측정 정밀도를 향상시킵니다.
     
 

Array Prober for large sized glasses
LP Series

   
  • Model LP-7500
  • Model LP-6050
  • Model LP-5550
  • Model LP-4800
  • Model LP-4770
  • Model LP-4700
TPS/OLED 기판 대응의 Array Prober입니다. Universal Probe Unit 탑재로 한층 더 경비 절감을 실현할 수 있습니다. 복수 Panel 동시 측정 방식에 의해 Tack Time을 대폭으로 저감시킵니다.
     
     
 

for Extra-Large Panel

   
  • Model LFP-19110H
  • Model LFP-1985H
  • Model OSP-65H
초대형, 고정밀의 액정, OLED Panel 대응 Prober입니다. LFP-19110H는 110인치까지의 8K×4K Full Contact 사양에 대응 가능합니다. OSP-65H는 65인치 사이즈까지의 OLED Panel용으로 Top/Bottom Emission의 양방식에 대응하는 신형 Shorting Bar Prober입니다.
     
 

for Middle-Large Panel

   
  • Model LFP-1620/1630
  • Model LFP-1750/1760
  • Model LFP-1850/1860
중소형으로부터 대형, 고정밀의 Panel 대응 점등검사용 Automatic Prober입니다. 2조의 Panel 반송 Arm에 의해 높은 작업성을 실현합니다.
     
 

PIXQUIRE

    Point Defect, Line Defect, 얼룩 등의 다양한 측정에 대응하는 고도의 검출 능력을 갖추고 있는 액정 Panel 점등 자동검사장치입니다. 고해상도 4K×2K Panel이나 소형 Panel을 복수 탑재하는 다면 방식에도 대응합니다. Panel Cell 공정, Module 공정에서 사용 가능합니다.
     
 

Mura Solution System(얼룩 보정, 검사 장치)

    액정, OLED Panel의 재료나 제조 공정에서 기인하여 발생하는 얼룩을 보정하여 수율을 향상시키고 Panel 품질의 향상을 실현한 장치입니다. 비용 절감을 위한 부재 변경으로 인해 발생하는 얼룩의 보정도 가능합니다. 자동 검사 기능을 탑재하고 있어 얼룩 보정 후의 OK/NG를 자동판정하는 것이 가능합니다. 본 장치는 IIX Co.,LTD사와의 공동 개발품입니다.
     
 

ITO(Transparent) Film AOI System
[ITO(투명막) 외관 검사 장치]

    종전의 검사가 곤란했던 투명한 ITO막을 특장적인 광학계 구성에 의해 가시화하여 검사를 실시합니다. Panel 반전 기구를 탑재하여 안팎 양면 촬영에 대응하고 있습니다.
검사 항목 : 이물질, 흠, 더러움, 기포, 금, 부서짐, 백/흑점, 먼지, 각종 치수, Light leakage, 배선의 단선
     
     
 

for AMOLED/LCD/Sensor Device

    각종 Flat Panel Device용 TFT Array 검사의 종합적인 Solution입니다. 전기 Tester에 의해 Array Panel 내의 결함을 고속과 동시에 고정도로 검출하여 다양한 품종에 대응이 가능합니다. Array Tester/TFT Array Prober/Probe Unit를 제공합니다.
     
     
 

Open Repair
Neosys

   
  • Model Neo-8500 Array Open Repair
  • Model Neo-7500 Array Open Repair
  • Model Neo-26M Cell Open Repair
배선의 Open/Short에 대하여 High Speed로 Repair가 가능합니다.

     
 

Cut Repair

   
  • Model MRS-6000/7000
MRS-6000은 Array용, MRS-7000은 Cell용 Repair장비입니다.
당사의 자동검사장비와 병행 사용함으로써, Total 제조공정관리가 가능합니다.