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반도체 집적회로의 TEST에 았어 양산에서 개발/불량해석까지의
폭넓은 Test Solution을 Low Cost로 제공해 드리고 있습니다.

 
 

TESTER

    Wafer Test공정 Final Test공정의 양산용 Tester를 풍부한 제품군으로 Device Needs에 적합한 Hardware구성으로 제안하여
Low Cost화 Small-Footprint화를 실현시키고 있습니다.
또한, 개발 시의 Device Program및 불량해석의 시간단축에 공헌 가능한 Engineering Tester 및 IC 조립 후의 검사에 적합한 O/S Tester등 폭넓은 Tester Line-Up을 갖추고 있습니다.

   
   
Tester for BIST
(Built In Self Test)
Tester for DFT
(Design For Testability)
Tester for WLBI
(Wafer Level Burn-In)
     
   

 

Test Lineup

Memory Flash Memory(BIST)
DRAM(WLBI)
Logic Flash Memory(DFT)
Logic(DFT)
Logic(WLBI)
      *u TAT는 (주)일본마이크로닉스의 등록상표입니다.
*uTAT is registered trademark of Micronics Japan Co.,Ltd. in Japan