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TESTER
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Wafer Test공정 Final Test공정의 양산용 Tester를 풍부한 제품군으로
Device Needs에 적합한 Hardware구성으로 제안하여
Low Cost화 Small-Footprint화를 실현시키고 있습니다.
또한, 개발 시의 Device Program및 불량해석의 시간단축에 공헌 가능한
Engineering Tester 및 IC 조립 후의 검사에 적합한 O/S Tester등 폭넓은
Tester Line-Up을 갖추고 있습니다.
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Tester for BIST
(Built In Self Test) |
Tester for DFT
(Design For Testability) |
Tester for WLBI
(Wafer Level Burn-In) |
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Test Lineup |
| Memory |
Flash Memory(BIST) |
| DRAM(WLBI) |
| Logic |
Flash Memory(DFT) |
| Logic(DFT) |
| Logic(WLBI) |
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*u TAT는 (주)일본마이크로닉스의 등록상표입니다.
*uTAT is registered trademark of Micronics Japan Co.,Ltd. in Japan |
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